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检测项目

时间:2013-11-27 字体大小:
测试分类 测试内容 所用设备
无机成分分析 发射光谱 无机材料元素的定性、半定量及定量分析 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)
电感耦合等离子体发射光谱质谱联用仪(ICP-MS)
X射线荧光光谱仪(XRF)
火花直读光谱;
辉光放电发射光谱仪(GD-OES)
吸收光谱 常量及微痕量元素分析 原子吸收光谱仪(AAS)
气体元素分析 金属材料、陶瓷中氧和氮的定量分析 O、N分析仪
C、S分析仪
结构分析 金相组织分析 高低倍组织检验及评定;
晶粒度评级;
非金属夹杂物含量测定;
脱碳层/渗碳硬化层深度测定
金相显微镜
X射线衍射分析 物相定性;
物相定量;
晶胞参数;
纳米材料微结构(晶粒尺寸/微应力);
Rietveld结构精修;
高温原位衍射(HTXRD);
低温原位衍射(LTXRD);
织构分析;
高分辨衍射(HRXRD);
掠入射衍射(GID);
全反射(XRR);
微区衍射等
X射线粉末衍射仪(XRD)
高分辨X射线衍射仪(HR-XRD)
二维探测器X射线衍射仪
透射电镜分析 粉体形貌分析;
EDS元素定性半定量分析;
STEM+HAADF成像;
超薄片样制备及形貌分析;
高分辨晶格像;
选区电子衍射
透射电子显微镜(TEM)
透射电镜样品制备设备
探针分析 表面形貌;
表面三维形貌;
EDS元素定性半定量分析;
元素面分布及线扫描;
微区相分析;
晶粒取向及极图分析;
半导体材料的发光特性;
部分无机非金属材料缺陷分析
扫描电子显微镜(SEM)
扫描探针显微镜(SPM)
激光共聚焦显微镜
X射线光电子能谱分析 材料表面(深度小于10nm)元素及元素化学状态定性定量分析;
薄膜表面逸出功、价带分析;
薄膜角分辨或离子刻蚀深度剖析
X射线光电子能谱仪(XPS)
有机分析 色谱 有机物的分离及定量分析 高效液相色谱(HPLC)
质谱 微量有机物的定性和定量分析 液相色谱三重四极杆质谱联用仪(LC-MS-MS)
气相色谱质谱联用仪(GC-MS)
超高效液相色谱四极杆飞行时间质谱仪(UPLC-Q-TOF)
光谱 有机物的鉴定和鉴别 红外光谱仪(IR)
显微红外;
紫外-可见分光光度计(UV)
拉曼光谱仪(Raman)
核磁 有机物结构分析(氢谱、碳谱、氟谱、磷谱等) 核磁共振谱仪(NMR)
元素 有机化合物、高分子材料、药物、石油产品等材料中C、H、N、S、O含量的测定。 有机元素分析仪
物理性能分析 力学性能(缺) 抗压强度;
弯曲强度;
抗剪强度;
抗拉强度;
洛式硬度;
维氏硬度;
显微硬度;
弹性模量
万能材料试验机
硬度计;
显微硬度计
热学性能 材料分解温度;
玻璃化转变温度;
热失重;
相变温度及相变焓(熔点、结晶、相转变);
反应温度及反应焓;
动态力学性能测试(储存模量、 损耗模量);
比热容测试;
材料导热性能测试(导热系数、热扩散系数)
热重/差热综合热分析仪(TG-DTA)
差示扫描量热仪(DSC)
动态热机械分析仪(DMA)
激光导热仪(LFA)
综合物性测量系统(PPMS)
电学性能 电阻率;
Hall系数;
临界电流;
各向异性磁电阻;
材料微区导电性测试;
材料表面电畴观察
综合物性测量系统(PPMS)
扫描探针显微镜(SPM)
光学性能 全反射率;
漫反射率;
截止波长;
透过率;
材料荧光性能;
磷光寿命
紫外-可见分光光度计(UV)
荧光光谱仪
量子效率测试系统
磁学性能 磁滞回线;
热磁曲线;
饱和磁化强度;
剩磁;
矫顽力;
居里温度;
交流磁化率;
磁畴观察等
综合物性测量系统(PPMS)
磁学性能测试系统(MPMS)
扫描探针显微镜(SPM)
粒度及比表面分析 粒度分布;
Zeta电位;
微、介、大孔材料比表面积、孔径分布及孔隙率测试
微米粒度仪
纳米粒度仪
比表面测试仪(BET)
压汞仪
密度 密度值;真密度 分析天平;
压汞仪
催化剂性能测试 催化剂、催化剂载体和其他各种材料的相关物理特性;
金属表面积;
表面酸性、活性位点的分布和强度
化学吸附仪
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